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基于激光跟踪仪的天线反射面装调方法

摘要

本发明公开了一种基于激光跟踪仪的天线反射面装调方法,该方法(一)横平竖直找基准,建立以大地水平为基准、以反射面设计坐标为原点、与现场协调的现场装调坐标系;(二)四点调节粗定位,在现场装调坐标系下测量标志点,计算第一调整量调整标志点,保证调整误差小于等于±2mm;(三)边缘最佳匀缝隙,通过边缘最佳拟合计算第二调整量调整边缘,保证标志点误差小于等于±0.5mm,缝隙宽度小于等于(0.1±0.05)λ;(四)单块精调定型面,通过限制三自由度型面最佳拟合,计算第三调整量调整型面,保证调整误差小于等于±0.02mm。本发明能提高天线反射面装调效率,缩短装调工期,保证装调质量,特别适合由多块反射面拼装而成的大型天线的装调。

著录项

  • 公开/公告号CN102176546B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-09-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN201110034428.4

  • 申请日2011-02-01

  • 分类号

  • 代理机构北京永创新实专利事务所;

  • 代理人李有浩

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2022-08-23 09:15:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-03-23

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01Q 19/10 授权公告日:20130911 终止日期:20150201 申请日:20110201

    专利权的终止

  • 2013-09-11

    授权

    授权

  • 2011-11-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01Q 19/10 申请日:20110201

    实质审查的生效

  • 2011-09-07

    公开

    公开

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