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实质上具有晶格匹配的半导体材料及其制造方法

摘要

本发明是一种实质上具有晶格匹配的半导体材料及其制造方法。在一方面中,该半导体元件包含有一第一半导体材料、一第二半导体材料以及一沉积于该第一半导体材料以及该第二半导体材料之间的原子模板间层;该原子模板间层将与第一半导体材料以及第二半导体材料产生键结并促使两半导体材料之间产生实质上的晶格匹配。

著录项

  • 公开/公告号CN102097461B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-07-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 宋健民;

    申请/专利号CN201010542762.6

  • 发明设计人 宋健民;

    申请日2010-11-10

  • 分类号

  • 代理机构北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人孙皓晨

  • 地址 中国台湾台北县

  • 入库时间 2022-08-23 09:15:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-07-31

    授权

    授权

  • 2011-08-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 29/12 申请日:20101110

    实质审查的生效

  • 2011-06-15

    公开

    公开

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