法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2015-12-09
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):C23C 16/40 授权公告日:20130717 终止日期:20141011 申请日:20071011
专利权的终止
2013-07-17
授权
授权
2012-01-04
著录事项变更 IPC(主分类):C23C 16/40 变更前: 变更后: 申请日:20071011
著录事项变更
2009-12-23
实质审查的生效
实质审查的生效
2009-09-09
公开
公开
机译: 在含硅介电材料形成中引入含羟基前体的间隙填充沉积
机译: 保护层可实现无损伤的间隙填充,并能够在高密度且隔离区域大的基材上形成介电层
机译: 形成例如半导体存储器件的方法。非与(NAND)型闪存设备涉及用介电材料的平坦化层填充间隙,并去除牺牲层的剩余部分