首页> 中国专利> 在形成于基材上的间隙中沉积介电层以及以介电材料填充间隙的方法

在形成于基材上的间隙中沉积介电层以及以介电材料填充间隙的方法

摘要

本发明描述一种在形成于基材上的间隙中沉积介电层的方法。所述方法包括导入有机硅前体及氧前体至沉积反应室。所述有机硅前体的C∶Si原子比小于8,且所述氧前体包括在所述沉积反应室外产生的氧原子。使所述些前体进行反应以在所述间隙中形成介电层。亦描述以介电材料填充间隙的方法。所述方法包括提供C∶Si原子比小于8的有机硅前体及氧前体,并由所述些前体产生等离子以在所述间隙中沉积所述介电材料的第一部分。可蚀刻所述介电材料,且可在所述间隙中形成所述介电材料的第二部分。可退火处理所述介电材料的第一及第二部分。

著录项

  • 公开/公告号CN101528974B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-07-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 应用材料公司;

    申请/专利号CN200780038465.4

  • 申请日2007-10-11

  • 分类号C23C16/40(20060101);H01L21/316(20060101);C23C16/04(20060101);

  • 代理机构31100 上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人陆勍

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 09:14:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-12-09

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):C23C 16/40 授权公告日:20130717 终止日期:20141011 申请日:20071011

    专利权的终止

  • 2013-07-17

    授权

    授权

  • 2012-01-04

    著录事项变更 IPC(主分类):C23C 16/40 变更前: 变更后: 申请日:20071011

    著录事项变更

  • 2009-12-23

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-09-09

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号