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测定与光学装置一起使用的光学元件象差的方法和装置

摘要

一种测定与诸如DVD的光学系统一起使用的光学元件如光学头象差的方法。在此方法中,光束透过光学元件并衍射成例如0,±1,±2级衍射光。其中,第一和第二光束(如0和+1,0和-1,+1和-1,或0和±1级衍射光)叠加形成第一和第二光束共有的一个图象。然后测得在共有图象中第一和第二点处的光强度。此时,使第一和第二点处的光强变化。之后测得第一和第二点之间光强的相位差。利用相位差判定光学元件的象差。

著录项

  • 公开/公告号CN1133073C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2003-12-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 松下电器产业株式会社;

    申请/专利号CN99111149.4

  • 发明设计人 高田和政;中城正裕;西井完治;

    申请日1999-07-27

  • 分类号G01M11/02;

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人朱进桂

  • 地址 日本大阪府

  • 入库时间 2022-08-23 08:56:16

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-20

    专利权有效期届满 IPC(主分类):G01M 11/02 授权公告日:20031231 申请日:19990727

    专利权的终止

  • 2003-12-31

    授权

    授权

  • 2003-12-31

    授权

    授权

  • 2000-02-16

    公开

    公开

  • 2000-02-16

    公开

    公开

  • 2000-01-19

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

  • 2000-01-19

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

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