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一种非金属材料半球向全发射率的测量方法和装置

摘要

本发明涉及测量材料热物理参数技术领域,特别涉及一种非金属材料半球向全发射率的测量方法和装置,该测量方法包括步骤:在真空环境中,选用多段组合的圆柱套筒状待测样品的中间段中心区域作为目标分析区域;将通电后的加热模块贯穿嵌入待测样品的内部;通过测量待测样品中间段和目标分析区域的几何尺寸以及在热平衡状态下,真空环境内部温度、待测样品中间段和目标分析区域的表面温度和热量功率,计算出半球向全发射率。本发明采用将加热模块内嵌于圆柱套筒状待测样品内部的加热方法,满足了高温下对非金属材料进行半球向全发射率测量的需求,并且具有测量装置结构简单、测量数据精度高等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN102072916B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-06-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN201010529042.6

  • 发明设计人 符泰然;谈鹏;孟迎潮;

    申请日2010-10-28

  • 分类号

  • 代理机构北京路浩知识产权代理有限公司;

  • 代理人王莹

  • 地址 100084 北京市海淀区清华园北京100084-82信箱

  • 入库时间 2022-08-23 09:14:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-06-05

    授权

    授权

  • 2011-07-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 25/00 申请日:20101028

    实质审查的生效

  • 2011-05-25

    公开

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