包括测量单元的连续成粒及干燥设备和连续成粒及干燥方法

摘要

本发明涉及一种包括成粒机(2)和干燥器(3)的连续成粒及干燥设备(1)。对产品和过程参数的测量通过定位在设备中的关键位置处的测量单元(MU1，MU2，MU3)进行。