首页> 中国专利> 采用形成于底导体上的选择性制造的碳纳米管可逆电阻转变元件的存储器单元及其制造方法

采用形成于底导体上的选择性制造的碳纳米管可逆电阻转变元件的存储器单元及其制造方法

摘要

在一些方面,提供了一种制造存储器单元的方法,该方法包括:(1)在衬底上制造第一导体;(2)在第一导体上选择性制造碳纳米管(“CNT”)材料,通过(a)在第一导体上制造CNT籽晶层,其中CNT籽晶层包括硅锗(“Si/Ge”),(b)平坦化所沉积的CNT籽晶层表面,且(c)在CNT籽晶层上选择性制造CNT材料;(3)在CNT材料上制造二极管;且(4)在二极管上制造第二导体。提供了众多的其他方面。

著录项

  • 公开/公告号CN102067313B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-05-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 桑迪士克3D有限责任公司;

    申请/专利号CN200980122196.9

  • 发明设计人 阿普里尔·D·施里克;

    申请日2009-04-09

  • 分类号

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人黄小临

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 09:14:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-08-17

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L 27/10 变更前: 变更后: 申请日:20090409

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2016-06-08

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 27/10 登记生效日:20160520 变更前: 变更后: 申请日:20090409

    专利申请权、专利权的转移

  • 2013-05-08

    授权

    授权

  • 2011-07-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 27/10 申请日:20090409

    实质审查的生效

  • 2011-05-18

    公开

    公开

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