首页> 中国专利> 一种改善基于半导体光放大器偏振旋转效应全光采样线性度的方法

一种改善基于半导体光放大器偏振旋转效应全光采样线性度的方法

摘要

本发明提供了一种改善基于半导体光放大器偏振旋转效应全光采样线性度的方法。该方法通过注入适当功率的保持光,抑制半导体光放大器的光增益的非线性效应,减小输出采样脉冲包络的谐波失真,提高全光采样系统的线性度。该方法不必改变半导体光放大器的结构,具有操作简便、效果明显的特点。本发明为提高下一代光学模数转换器的转换精度起到有力的推动作用,具有广泛的应用前景。

著录项

  • 公开/公告号CN102360149B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-06-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201110191196.3

  • 申请日2011-07-08

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 610054 四川省成都市成华区建设北路二段四号

  • 入库时间 2022-08-23 09:14:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-27

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G02F 7/00 授权公告日:20130605 终止日期:20170708 申请日:20110708

    专利权的终止

  • 2013-06-05

    授权

    授权

  • 2013-06-05

    授权

    授权

  • 2012-04-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02F7/00 申请日:20110708

    实质审查的生效

  • 2012-04-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02F 7/00 申请日:20110708

    实质审查的生效

  • 2012-02-22

    公开

    公开

  • 2012-02-22

    公开

    公开

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