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一种用于Ku和K波段范围的相位噪声能力验证比对装置

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本发明公开了一种用于Ku和K波段范围的相位噪声能力验证比对装置，包括：高稳晶振源A（1）、高稳晶振源B（13）、相位噪声测量装置（12），还包括：倍频器A（2）、锁相环路A（3）、低噪声压控振荡器A（4）、隔离放大器A（5）、倍频器B（6）、梳状谱发生器A（7）、YIG调谐滤波器A（8）、PIN开关组合A（9）、功率放大器组合A（10）、微波源A（11）。通过在相位噪声测量的能力验证活动中应用这种比对装置，并利用其结果，可以客观地验证和评价实验室的相位噪声计量测试的技术能力，这对保证相位噪声测量结果的质量，提高其置信度，验证及监控实验室的持续能力，具有重要的现实意义。

著录项

公开/公告号CN102419398B

专利类型发明专利
公开/公告日2013-06-05

原文格式PDF
申请/专利权人中国航天科工集团第二研究院二〇三所;
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申请/专利号CN201110379552.4
发明设计人阎栋梁;王学运;杨军;韩红;柳丹;
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申请日2011-11-25
分类号
代理机构中国航天科工集团公司专利中心;
代理人岳洁菱
地址 100854 北京市海淀区永定路50号142信箱408分箱
入库时间 2022-08-23 09:14:26

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2016-01-20

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 25/00 授权公告日:20130605 终止日期:20141125 申请日:20111125

专利权的终止
2013-06-05

授权

授权
2012-05-30

实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 25/00 申请日:20111125

实质审查的生效
2012-04-18

公开

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