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同步辐射X射线多层膜反射率计装置

摘要

一种同步辐射X射线多层膜反射率计装置,采用单块多层膜反射镜作为色散元件,装置主体由两台Bragg衍射仪构成统一体,单色器和随动摇臂构成第一个衍射仪,所述单色器与随动摇臂构成二倍角关系;样品和探测器构成第二衍射仪,所述样品与探测器也构成二倍角关系。使用单块多层膜反射镜使单色器系统大大简化,同时使得光源传输效率及光通量大大增加,由于整套机构处于同一个真空腔体中,使得结构更加紧凑,整个工程造价也大大降低。

著录项

  • 公开/公告号CN1122830C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2003-10-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院高能物理研究所;

    申请/专利号CN00102966.5

  • 发明设计人 崔明启;薛松;

    申请日2000-03-10

  • 分类号G01J3/12;G21K1/00;

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人朱进桂

  • 地址 100039 北京市石景山区玉泉路19号(乙)

  • 入库时间 2022-08-23 08:56:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-04-29

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01J 3/12 授权公告日:20031001 终止日期:20140310 申请日:20000310

    专利权的终止

  • 2003-10-01

    授权

    授权

  • 2001-09-19

    公开

    公开

  • 2001-05-02

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

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