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用基于纳米结构的光谱检测方法检测化学物和生化物杂质

摘要

本发明用基于纳米结构的光谱检测方法检测化学物和生化物杂质,特别是公开了一种为工业生产过程提供质量保证的方法。该方法包括从工业生产过程中获得一制造材料,让该制造材料与纳米表面接触,使得有害物质吸附到该纳米表面上。该方法还包括利用一光谱仪从该制造材料和该纳米表面获得一拉曼光谱,利用一光谱分析系统查找有害物质在拉曼光谱中预定光谱范围内的光谱信号,如果在拉曼光谱中存在该光谱信号,则检测该制造材料中有害物质的浓度,如果该浓度超出一预定的允许限度,那么将该制造材料从该工业生产过程中排除。

著录项

  • 公开/公告号CN102072894B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-05-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201010154091.6

  • 发明设计人 汪泓;郭浔;刘春伟;

    申请日2010-04-23

  • 分类号G01N21/65(20060101);G01J3/44(20060101);G08B21/12(20060101);G08C17/02(20060101);B07C5/34(20060101);

  • 代理机构11200 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人李稚婷

  • 地址 215021 江苏省苏州工业园区星湖街218号A4-316

  • 入库时间 2022-08-23 09:14:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-24

    专利权的转移 IPC(主分类):G01N21/65 登记生效日:20200107 变更前: 变更后: 申请日:20100423

    专利申请权、专利权的转移

  • 2013-05-01

    授权

    授权

  • 2013-05-01

    授权

    授权

  • 2011-07-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/65 申请日:20100423

    实质审查的生效

  • 2011-07-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/65 申请日:20100423

    实质审查的生效

  • 2011-05-25

    公开

    公开

  • 2011-05-25

    公开

    公开

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