Unit单元检测方法和装置

摘要

本申请公开了一种Unit单元检测方法和装置，属于工业检测技术领域。所述Unit单元检测方法包括：对IC载板进行全局定位，确定至少一个Unit集合；对所述至少一个Unit集合中目标Unit集合进行划分，获取多个Unit单元；在所述多个Unit单元中目标Unit单元存在缺陷的情况下，对所述目标Unit单元进行定位，确定所述目标Unit单元中待加工区域的目标位置；基于所述目标位置，对所述目标Unit单元进行激光加工。本申请的Unit单元检测方法，能够快速划分出Unit区域，便于后续进行检测，具有较高的便捷性与可维护性，且能够准确定位需要进行激光加工的区域位置，提高了检测的精准度。

说明书

技术领域

本申请属于工业检测技术领域，尤其涉及一种Unit单元检测方法和装置。

背景技术

IC载板的Unit单元作为IC载板的核心部分，其质量的好坏将直接决定IC载板的质量。目前多采用直接模板匹配的方式进行Unit单元定位，建模过程较复杂，且定位精度较低，导致激光标记误差较大。

发明内容

本申请旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本申请提出一种Unit单元检测方法和装置，具有较高的便捷性与可维护性，能够降低标记误差，实现加工区域的精确定位，提高了检测的精准度。

第一方面，本申请提供了一种Unit单元检测方法，该方法包括：

对IC载板进行全局定位，确定至少一个Unit集合；

对所述至少一个Unit集合中目标Unit集合进行划分，获取多个Unit单元；

在所述多个Unit单元中目标Unit单元存在缺陷的情况下，对所述目标Unit单元进行定位，确定所述目标Unit单元中待加工区域的目标位置；

基于所述目标位置，对所述目标Unit单元进行激光加工。

根据本申请实施例提供的Unit单元检测方法，通过对IC载板进行全局定位以确定Unit集合区域，然后对目标Unit集合进行划分，获取多个Unit单元，能够对IC载板上的多个Unit单元进行精确划分，快速划分出Unit区域以便对每个Unit单元进行缺陷检测；在目标Unit单元存在缺陷的情况下，对目标Unit单元进行定位，以确定待加工区域的目标位置，然后对目标Unit单元进行激光加工，能够降低标记误差，实现加工区域的精确定位，提高了检测的精准度，且对Unit单元的定位方式简单，具有较高的便捷性与可维护性。

本申请一个实施例的Unit单元检测方法，所述在所述多个Unit单元中目标Unit单元存在缺陷的情况下，对所述目标Unit单元进行定位，确定所述目标Unit单元中待加工区域的目标位置，包括：

对所述多个Unit单元进行笔刀特征检测；

在所述目标Unit单元存在笔刀特征的情况下，基于复检检测训练模板对所述目标Unit单元进行复检；

在所述目标Unit单元与所述复检检测训练模板不一致的情况下，对所述目标Unit单元进行定位。

根据本申请一个实施例的Unit单元检测方法，通过对多个Unit单元进行笔刀特征检测，在目标Unit单元存在笔刀特征的情况下，基于复检检测训练模板对目标Unit单元进行复检，然后在目标Unit单元与复检检测训练模板不一致的情况下，对目标Unit单元进行精定位检测，以便后续引导激光对目标Unit单元进行加工，以减少激光打标的误差，提高检测的准确度与精度。

本申请一个实施例的Unit单元检测方法，所述对所述多个Unit单元进行笔刀特征检测，包括：

基于线程数对所述多个Unit单元进行分组，每组包括至少一个Unit单元；

分别同时对各组所包括的Unit单元进行笔刀特征检测。

根据本申请一个实施例的Unit单元检测方法，通过基于线程数对多个Unit单元进行分组，然后分别同时对各组所包括的Unit单元进行笔刀特征检测，能够缩短执行时间，提高了检测速度和效率，适用于Unit数量较大的IC载板质量检测和生产。

本申请一个实施例的Unit单元检测方法，所述对所述目标Unit单元进行定位，确定所述目标Unit单元中待加工区域的目标位置，包括：

基于ID号，确定所述目标Unit单元的位置区域；

在所述位置区域内进行找线操作，确定所述目标位置。

根据本申请一个实施例的Unit单元检测方法，通过基于ID号，确定目标Unit单元的位置区域，以实现粗定位，然后在位置区域内进行找线操作，确定目标位置，在粗定位的基础上进行精确定位，可以准确定位目标位置，引导激光进行加工，减少了激光打标的误差，提高了定位和检测精度。

本申请一个实施例的Unit单元检测方法，所述对所述至少一个Unit集合中目标Unit集合进行划分，获取多个Unit单元，包括：

从所述目标Unit集合中提取多个角点；

基于所述多个角点，生成仿射矩形；

基于目标行列数划分所述仿射矩形，获取所述多个Unit单元。

根据本申请一个实施例的Unit单元检测方法，通过从目标Unit集合中提取多个角点，然后基于多个角点，生成仿射矩形，再基于目标行列数划分仿射矩形，获取多个Unit单元，确定三个角点即可确定Unit集合区域，能够快速划分出Unit区域，便于作为后续训练和检测的基本单元，简单便捷且易于实现。

本申请一个实施例的Unit单元检测方法，所述对IC载板进行全局定位，确定至少一个Unit集合，包括：

从所述IC载板中提取全局特征；

基于所述全局特征对应的位置信息，确定所述至少一个Unit集合。

根据本申请一个实施例的Unit单元检测方法，通过从IC载板中提取全局特征，然后基于全局特征对应的位置信息，确定至少一个Unit集合，能够从IC载板中确定至少一个Unit集合的区域，便于后续基于Unit集合划分Unit单元，以进行Unit单元检测操作。

第二方面，本申请提供了一种Unit单元检测装置，该装置包括：

第一处理模块，用于对IC载板进行全局定位，确定至少一个Unit集合；

第二处理模块，用于对所述至少一个Unit集合中目标Unit集合进行划分，获取多个Unit单元；

第三处理模块，用于在所述多个Unit单元中目标Unit单元存在缺陷的情况下，对所述目标Unit单元进行定位，确定所述目标Unit单元中待加工区域的目标位置；

第四处理模块，用于基于所述目标位置，对所述目标Unit单元进行激光加工。

根据本申请实施例提供的Unit单元检测装置，通过对IC载板进行全局定位以确定Unit集合区域，然后对目标Unit集合进行划分，获取多个Unit单元，能够对IC载板上的多个Unit单元进行精确划分，快速划分出Unit区域以便对每个Unit单元进行缺陷检测；在目标Unit单元存在缺陷的情况下，对目标Unit单元进行定位，以确定待加工区域的目标位置，然后对目标Unit单元进行激光加工，能够降低标记误差，实现加工区域的精确定位，提高了检测的精准度，且对Unit单元的定位方式简单，具有较高的便捷性与可维护性。

本申请一个实施例的Unit单元检测装置，第三处理模块还可以用于对所述多个Unit单元进行笔刀特征检测；

在所述目标Unit单元存在笔刀特征的情况下，基于复检检测训练模板对所述目标Unit单元进行复检；

在所述目标Unit单元与所述复检检测训练模板不一致的情况下，对所述目标Unit单元进行定位。

根据本申请一个实施例的Unit单元检测装置，通过对多个Unit单元进行笔刀特征检

测，在目标Unit单元存在笔刀特征的情况下，基于复检检测训练模板对目标Unit单元5进行复检，然后在目标Unit单元与复检检测训练模板不一致的情况下，对目标Unit单

元进行精定位检测，以便后续引导激光对目标Unit单元进行加工，以减少激光打标的误差，提高检测的准确度与精度。

本申请一个实施例的Unit单元检测装置，该Unit单元检测装置还可以包括第五处理

模块，用于基于线程数对所述多个Unit单元进行分组，每组包括至少一个Unit单元；0分别同时对各组所包括的Unit单元进行笔刀特征检测。

根据本申请一个实施例的Unit单元检测装置，通过基于线程数对多个Unit单元进行分组，然后分别同时对各组所包括的Unit单元进行笔刀特征检测，能够缩短执行时间，提高了检测速度和效率，适用于Unit数量较大的IC载板质量检测和生产。

本申请一个实施例的Unit单元检测装置，第三处理模块还可以用于基于ID号，确5定所述目标Unit单元的位置区域；

在所述位置区域内进行找线操作，确定所述目标位置。

根据本申请一个实施例的Unit单元检测装置，通过基于ID号，确定目标Unit单元的位置区域，以实现粗定位，然后在位置区域内进行找线操作，确定目标位置，在粗定

位的基础上进行精确定位，可以准确定位目标位置，引导激光进行加工，减少了激光打0标的误差，提高了定位和检测精度。

本申请一个实施例的Unit单元检测装置，第二处理模块还可以用于从所述目标Unit集合中提取多个角点；

基于所述多个角点，生成仿射矩形；

基于目标行列数划分所述仿射矩形，获取所述多个Unit单元。

5根据本申请一个实施例的Unit单元检测装置，通过从目标Unit集合中提取多个角点，

然后基于多个角点，生成仿射矩形，再基于目标行列数划分仿射矩形，获取多个Unit单元，确定三个角点即可确定Unit集合区域，能够快速划分出Unit区域，便于作为后续训练和检测的基本单元，简单便捷且易于实现。

本申请一个实施例的Unit单元检测装置，第一处理模块还可以用于从所述IC载板0中提取全局特征；

基于所述全局特征对应的位置信息，确定所述至少一个Unit集合。

根据本申请一个实施例的Unit单元检测装置，通过从IC载板中提取全局特征，然后基于全局特征对应的位置信息，确定至少一个Unit集合，能够从IC载板中确定至少一个Unit集合的区域，便于后续基于Unit集合划分Unit单元，以进行Unit单元检测操作。

第三方面，本申请提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述第一方面所述的Unit单元检测方法。

第四方面，本申请提供了一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述第一方面所述的Unit单元检测方法。

第五方面，本申请提供了一种芯片，所述芯片包括处理器和通信接口，所述通信接口和所述处理器耦合，所述处理器用于运行程序或指令，实现如第一方面所述的Unit单元检测方法。

第六方面，本申请提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述第一方面所述的Unit单元检测方法。

本申请实施例中的上述一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果之一：

通过对IC载板进行全局定位以确定Unit集合区域，然后对目标Unit集合进行划分，获取多个Unit单元，能够对IC载板上的多个Unit单元进行精确划分，快速划分出Unit区域以便对每个Unit单元进行缺陷检测；在目标Unit单元存在缺陷的情况下，对目标Unit单元进行定位，以确定待加工区域的目标位置，然后对目标Unit单元进行激光加工，能够降低标记误差，实现加工区域的精确定位，提高了检测的精准度，且对Unit单元的定位方式简单，具有较高的便捷性与可维护性。

进一步的，通过基于线程数对多个Unit单元进行分组，然后分别同时对各组所包括的Unit单元进行笔刀特征检测，能够缩短执行时间，提高了检测速度和效率，适用于Unit数量较大的IC载板质量检测和生产。

更进一步的，通过基于ID号，确定目标Unit单元的位置区域，以实现粗定位，然后在位置区域内进行找线操作，确定目标位置，在粗定位的基础上进行精确定位，可以准确定位目标位置，引导激光进行加工，减少了激光打标的误差，提高了定位和检测精度。

再进一步的，通过从目标Unit集合中提取多个角点，然后基于多个角点，生成仿射矩形，再基于目标行列数划分仿射矩形，获取多个Unit单元，确定三个角点即可确定Unit集合区域，能够快速划分出Unit区域，便于作为后续训练和检测的基本单元，简单便捷且易于实现。

本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。

附图说明

本申请的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本申请实施例提供的Unit单元检测方法的流程示意图之一；

图2是本申请实施例提供的Unit单元检测方法的原理示意图之一；

图3是本申请实施例提供的Unit单元检测方法的流程示意图之二；

图4是本申请实施例提供的Unit单元检测方法的原理示意图之二；

图5是本申请实施例提供的Unit单元检测方法的原理示意图之三；

图6是本申请实施例提供的Unit单元检测方法的流程示意图之三；

图7是本申请实施例提供的Unit单元检测方法的原理示意图之四；

图8是本申请实施例提供的Unit单元检测装置的结构示意图；

图9是本申请实施例提供的电子设备的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

本申请的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施，且“第一”、“第二”等所区分的对象通常为一类，并不限定对象的个数，例如第一对象可以是一个，也可以是多个。此外，说明书以及权利要求中“和/或”表示所连接对象的至少其中之一，字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

下面结合图1至图7描述本申请实施例的Unit单元检测方法。

需要说明的是，Unit单元检测方法的执行主体可以为服务器，或者可以为Unit单元检测装置，或者还可以为用户的终端，包括但不限于移动终端和非移动终端。

例如，移动终端包括但不限于手机、PDA智能终端、平板电脑以及车载智能终端等；非移动终端包括但不限于PC端等。

如图1所示，该Unit单元检测方法，包括：步骤110、步骤120、步骤130和步骤140。

步骤110、对IC载板进行全局定位，确定至少一个Unit集合；

在该步骤中，如图2所示，为IC载板示意图，IC载板为在实际应用中用于封装裸IC(集成电路)芯片的基板，用于连接芯片和电路板。

Unit集合中包括至少一个Unit单元。

全局定位用于从IC载板中确定Unit集合所在的区域。

在本申请中，至少一个Unit集合之间是并行执行后续检测的，可以缩短整体的执行时间。

在一些实施例中，在步骤110之前，可以基于IC载板进行预训练，如图3所示，按照训练次序预训练可以包括：全局定位训练、Unit区域划分、Unit初定位训练、Unit笔刀检测训练、Unit复检检测训练和Unit精定位训练。

在实际执行过程中，可直接调用训练模板，便于用户使用，提高检测效率。

在一些实施例中，步骤110可以包括：

从IC载板中提取全局特征；

基于全局特征对应的位置信息，确定至少一个Unit集合。

在该实施例中，全局特征为IC载板的全局区域的特征，如图2中的三角形区域。

基于全局特征对应的位置信息，确定Unit集合所在的区域。

全局定位训练可以包括特征点训练和点匹配训练中的至少一种训练。

在实际执行过程中，如图2所示，首先选取IC载板上的全局特征对每个特征进行几何定位训练，再对各定位特征点进行点匹配训练。

其中，特征的选取需覆盖IC载板的整个区域，且特征的数量需不小于4个。

根据本申请实施例提供的Unit单元检测方法，通过从IC载板中提取全局特征，然后基于全局特征对应的位置信息，确定至少一个Unit集合，能够从IC载板中确定至少一个Unit集合的区域，便于后续基于Unit集合划分Unit单元，以进行Unit单元检测操作。

步骤120、对至少一个Unit集合中目标Unit集合进行划分，获取多个Unit单元；

在该步骤中，目标Unit集合为用于划分Unit单元的集合。

目标Unit集合中包括至少一个Unit单元。

在一些实施例中，步骤120可以包括：

从目标Unit集合中提取多个角点；

基于多个角点，生成仿射矩形；

基于目标行列数划分仿射矩形，获取多个Unit单元。

在该实施例中，多个角点可以包括Unit集合的左上角点、右上角点、左下角点和右下角点中的至少一个。

仿射矩形可以基于仿射变换得到。

目标行列数为Unit集合的行数与列数，例如，可以设置Unit集合的行数为3、4或5，列数为3、4或5，可以基于用户自定义，本申请不作限定。

在实际执行过程中，可以使用鼠标分别对目标Unit集合的左上角点、右上角点和左下角点进行选取，基于三个角点生成仿射矩形，再设置Unit集合的行数和列数，基于阵列的方式从仿射矩形中划分出Unit单元，如图2中的多个最小矩形即为多个Unit单元。

根据本申请实施例提供的Unit单元检测方法，通过从目标Unit集合中提取多个角点，然后基于多个角点，生成仿射矩形，再基于目标行列数划分仿射矩形，获取多个Unit单元，确定三个角点即可确定Unit集合区域，能够快速划分出Unit区域，便于作为后续训练和检测的基本单元，简单便捷且易于实现。

步骤130、在多个Unit单元中目标Unit单元存在缺陷的情况下，对目标Unit单元进行定位，确定目标Unit单元中待加工区域的目标位置；

在该步骤中，目标Unit单元为存在缺陷的Unit单元，目标Unit单元的个数可以为一个，也可以为多个。

待加工区域为用于激光加工的区域。

目标位置为目标Unit单元中待加工区域的具体位置。

下面对目标位置的确定方式进行具体说明。

在一些实施例中，步骤130可以包括：

基于ID号，确定目标Unit单元的位置区域；

在位置区域内进行找线操作，确定目标位置。

在该实施例中，ID号为Unit单元的ID。

在实际执行过程中，在从IC载板上划分出Unit单元之后，每个Unit单元按照排序规则都有与其对应的ID号，可以自动生成，也可以基于用户自定义，可以理解的是，ID号与Unit单元是一一对应的。

目标位置为特征点的位置。

如图4所示，在位置区域内进行找线操作，由线线交点确定特征中心点，即为目标位置。

在实际训练过程中，可以选取未被激光标记的Unit单元为基准单元，如图5中的ID2Unit所示，然后选中某特征，如ID2Unit中的实心矩阵所示，再基于该特征，进行初定位训练。

根据本申请实施例提供的Unit单元检测方法，通过基于ID号，确定目标Unit单元的位置区域，以实现粗定位，然后在位置区域内进行找线操作，确定目标位置，在粗定位的基础上进行精确定位，可以准确定位目标位置，引导激光进行加工，减少了激光打标的误差，提高了定位和检测精度。

在一些实施例中，步骤130可以包括：

对多个Unit单元进行笔刀特征检测；

在目标Unit单元存在笔刀特征的情况下，基于复检检测训练模板对目标Unit单元进行复检；

在目标Unit单元与复检检测训练模板不一致的情况下，对目标Unit单元进行定位。

在该实施例中，笔刀特征检测用于检测Unit单元是否存在缺陷。

在实际执行过程中，可以在基准Unit中选取较大的区域作为笔刀检测训练区域，如图5所示，可以在ID2Unit中选取较大的矩形框作为笔刀检测训练区域。

在一些实施例中，对多个Unit单元进行笔刀特征检测，可以包括：

基于线程数对多个Unit单元进行分组，每组包括至少一个Unit单元；

分别同时对各组所包括的Unit单元进行笔刀特征检测。

在该实施例中，可以基于工控机最佳线程数对多个Unit单元进行分组。

每组Unit之间的笔刀特征检测是并行执行的。

如图6所示，在实际执行过程中，可以先对IC载板进行全局定位，以确定Unit集合的区域，然后再对Unit集合进行划分，获取多个Unit单元，再根据工控机最佳线程数对多个Unit单元进行分组，每组Unit之间是并行执行的，且每组Unit内检测是顺序循环执行的，所有Unit执行完成后对结果进行汇总并输出。

发明人在研发过程中发现，相关技术中，IC载板上的Unit单元数量较多，现有的Unit单元检测时间较长且检测速度较慢，难以适应大批量的生产。

根据本申请实施例提供的Unit单元检测方法，通过基于线程数对多个Unit单元进行分组，然后分别同时对各组所包括的Unit单元进行笔刀特征检测，能够缩短执行时间，提高了检测速度和效率，适用于Unit数量较大的IC载板质量检测和生产。

复检检测训练模板为预先训练好的模板，在实际训练过程中，可以选取存在激光标记的Unit作为复检检测训练Unit，如图5中的ID1Unit。

如图7所示，可以先基于ID号进行初定位，然后选取复检区域，以激光标记区域为模板，基于复检区域进行复检检测训练，同时将复检区域反变换为基准Unit，以供后续检测使用。

在实际执行过程中，如图6所示，对多个Unit单元进行进行笔刀特征检测，在目标Unit单元不存在缺陷的情况下，判定目标Unit单元为正常Unit单元；

在目标Unit单元存在缺陷的情况下，即目标Unit单元存在笔刀特征，如图5中的ID3Unit，对目标Unit单元进行复检检测，在目标Unit单元与复检检测训练模板一致的情况下，表示目标Unit单元已被激光标记，则重新对Unit单元进行初定位；

在目标Unit单元与复检检测训练模板不一致的情况下，对目标Unit单元进行精定位检测，确定目标Unit单元中的特征点位置。

根据本申请实施例提供的Unit单元检测方法，通过对多个Unit单元进行笔刀特征检测，在目标Unit单元存在笔刀特征的情况下，基于复检检测训练模板对目标Unit单元进行复检，然后在目标Unit单元与复检检测训练模板不一致的情况下，对目标Unit单元进行精定位检测，以便后续引导激光对目标Unit单元进行加工，以减少激光打标的误差，提高检测的准确度与精度。

步骤140、基于目标位置，对目标Unit单元进行激光加工。

在该步骤中，目标位置为目标Unit单元中的特征点位置。

激光加工可以包括对目标Unit单元进行激光标记。

在本申请中，对IC载板进行全局定位，确定至少一个Unit集合，然后对至少一个Unit集合中的目标Unit集合进行划分，获取多个Unit单元，能够快速划分出Unit区域，以选定基准Unit，便于后续进行检测，建模过程较简单，具有较高的便捷性与可维护性。

在多个Unit单元中的目标Unit单元存在缺陷的情况下，对目标Unit单元进行定位，确定目标Unit单元中的待加工区域的目标位置，能够准确定位需要进行激光加工的区域位置，提高了检测的精准度。

根据本申请实施例提供的Unit单元检测方法，通过对IC载板进行全局定位以确定Unit集合区域，然后对目标Unit集合进行划分，获取多个Unit单元，能够对IC载板上的多个Unit单元进行精确划分，快速划分出Unit区域以便对每个Unit单元进行缺陷检测；在目标Unit单元存在缺陷的情况下，对目标Unit单元进行定位，以确定待加工区域的目标位置，然后对目标Unit单元进行激光加工，能够降低标记误差，实现加工区域的精确定位，提高了检测的精准度，且对Unit单元的定位方式简单，具有较高的便捷性与可维护性。

下面对本申请提供的Unit单元检测装置进行描述，下文描述的Unit单元检测装置与上文描述的Unit单元检测方法可相互对应参照。

本申请实施例提供的Unit单元检测方法，执行主体可以为Unit单元检测装置。本申请实施例中以Unit单元检测装置执行Unit单元检测方法为例，说明本申请实施例提供的Unit单元检测装置。

本申请实施例还提供一种Unit单元检测装置。

如图8所示，该Unit单元检测装置，包括：第一处理模块810、第二处理模块820、第三处理模块830和第四处理模块840。

第一处理模块810，用于对IC载板进行全局定位，确定至少一个Unit集合；

第二处理模块820，用于对至少一个Unit集合中目标Unit集合进行划分，获取多个Unit单元；

第三处理模块830，用于在多个Unit单元中目标Unit单元存在缺陷的情况下，对目标Unit单元进行定位，确定目标Unit单元中待加工区域的目标位置；

第四处理模块840，用于基于目标位置，对目标Unit单元进行激光加工。

根据本申请实施例提供的Unit单元检测装置，通过对IC载板进行全局定位以确定Unit集合区域，然后对目标Unit集合进行划分，获取多个Unit单元，能够对IC载板上的多个Unit单元进行精确划分，快速划分出Unit区域以便对每个Unit单元进行缺陷检测；在目标Unit单元存在缺陷的情况下，对目标Unit单元进行定位，以确定待加工区域的目标位置，然后对目标Unit单元进行激光加工，能够降低标记误差，实现加工区域的精确定位，提高了检测的精准度，且对Unit单元的定位方式简单，具有较高的便捷性与可维护性。

在一些实施例中，第三处理模块830还可以用于对多个Unit单元进行笔刀特征检测；

在目标Unit单元存在笔刀特征的情况下，基于复检检测训练模板对目标Unit单元进行复检；

在目标Unit单元与复检检测训练模板不一致的情况下，对目标Unit单元进行定位。

根据本申请实施例提供的Unit单元检测装置，通过对多个Unit单元进行笔刀特征检测，在目标Unit单元存在笔刀特征的情况下，基于复检检测训练模板对目标Unit单元进行复检，然后在目标Unit单元与复检检测训练模板不一致的情况下，对目标Unit单元进行精定位检测，以便后续引导激光对目标Unit单元进行加工，以减少激光打标的误差，提高检测的准确度与精度。

在一些实施例中，该Unit单元检测装置还可以包括第五处理模块，用于基于线程数对多个Unit单元进行分组，每组包括至少一个Unit单元；

分别同时对各组所包括的Unit单元进行笔刀特征检测。

根据本申请实施例提供的Unit单元检测装置，通过基于线程数对多个Unit单元进行分组，然后分别同时对各组所包括的Unit单元进行笔刀特征检测，能够缩短执行时间，提高了检测速度和效率，适用于Unit数量较大的IC载板质量检测和生产。

在一些实施例中，第三处理模块830还可以用于基于ID号，确定目标Unit单元的位置区域；

在位置区域内进行找线操作，确定目标位置。

根据本申请实施例提供的Unit单元检测装置，通过基于ID号，确定目标Unit单元的位置区域，以实现粗定位，然后在位置区域内进行找线操作，确定目标位置，在粗定位的基础上进行精确定位，可以准确定位目标位置，引导激光进行加工，减少了激光打标的误差，提高了定位和检测精度。

在一些实施例中，第二处理模块820还可以用于从目标Unit集合中提取多个角点；

基于多个角点，生成仿射矩形；

基于目标行列数划分放射矩形，获取多个Unit单元。

根据本申请实施例提供的Unit单元检测装置，通过从目标Unit集合中提取多个角点，然后基于多个角点，生成仿射矩形，再基于目标行列数划分仿射矩形，获取多个Unit单元，确定三个角点即可确定Unit集合区域，能够快速划分出Unit区域，便于作为后续训练和检测的基本单元，简单便捷且易于实现。

在一些实施例中，第一处理模块810还可以用于从IC载板中提取全局特征；

基于全局特征对应的位置信息，确定至少一个Unit集合。

根据本申请实施例提供的Unit单元检测装置，通过从IC载板中提取全局特征，然后基于全局特征对应的位置信息，确定至少一个Unit集合，能够从IC载板中确定至少一个Unit集合的区域，便于后续基于Unit集合划分Unit单元，以进行Unit单元检测操作。

本申请实施例中的Unit单元检测装置可以是电子设备，也可以是电子设备中的部件，例如集成电路或芯片。该电子设备可以是终端，也可以为除终端之外的其他设备。示例性的，电子设备可以为手机、平板电脑、笔记本电脑、掌上电脑、车载电子设备、移动上网装置(Mobile Internet Device，MID)、增强现实(augmented reality，AR)/虚拟现实(virtual reality，VR)设备、机器人、可穿戴设备、超级移动个人计算机(ultra-mobilepersonal computer，UMPC)、上网本或者个人数字助理(personal digital assistant，PDA)等，还可以为服务器、网络附属存储器(Network Attached Storage，NAS)、个人计算机(personal computer，PC)、电视机(television，TV)、柜员机或者自助机等，本申请实施例不作具体限定。

本申请实施例中的Unit单元检测装置可以为具有操作系统的装置。该操作系统可以为安卓(Android)操作系统，可以为IOS操作系统，还可以为其他可能的操作系统，本申请实施例不作具体限定。

本申请实施例提供的Unit单元检测装置能够实现图1至图7的方法实施例实现的各个过程，为避免重复，这里不再赘述。

图9示例了一种电子设备的实体结构示意图，如图9所示，该电子设备可以包括：处理器(processor)910、通信接口(Communications Interface)920、存储器(memory)930和通信总线940，其中，处理器910，通信接口920，存储器930通过通信总线940完成相互间的通信。处理器910可以调用存储器930中的逻辑指令，以执行Unit单元检测方法，该方法包括：对IC载板进行全局定位，确定至少一个Unit集合；对至少一个Unit集合中目标Unit集合进行划分，获取多个Unit单元；在多个Unit单元中目标Unit单元存在缺陷的情况下，对目标Unit单元进行定位，确定目标Unit单元中待加工区域的目标位置；基于目标位置，对目标Unit单元进行激光加工。

此外，上述的存储器930中的逻辑指令可以通过软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

另一方面，本申请还提供一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括存储在非暂态计算机可读存储介质上的计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，当所述程序指令被计算机执行时，计算机能够执行上述各方法所提供的Unit单元检测方法，该方法包括：对IC载板进行全局定位，确定至少一个Unit集合；对至少一个Unit集合中目标Unit集合进行划分，获取多个Unit单元；在多个Unit单元中目标Unit单元存在缺陷的情况下，对目标Unit单元进行定位，确定目标Unit单元中待加工区域的目标位置；基于目标位置，对目标Unit单元进行激光加工。

又一方面，本申请还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以执行上述各提供的Unit单元检测方法，该方法包括：对IC载板进行全局定位，确定至少一个Unit集合；对至少一个Unit集合中目标Unit集合进行划分，获取多个Unit单元；在多个Unit单元中目标Unit单元存在缺陷的情况下，对目标Unit单元进行定位，确定目标Unit单元中待加工区域的目标位置；基于目标位置，对目标Unit单元进行激光加工。

又一方面，本申请实施例另提供了一种芯片，所述芯片包括处理器和通信接口，所述通信接口和所述处理器耦合，所述处理器用于运行程序或指令，实现上述Unit单元检测方法，该方法包括：对IC载板进行全局定位，确定至少一个Unit集合；对至少一个Unit集合中目标Unit集合进行划分，获取多个Unit单元；在多个Unit单元中目标Unit单元存在缺陷的情况下，对目标Unit单元进行定位，确定目标Unit单元中待加工区域的目标位置；基于目标位置，对目标Unit单元进行激光加工。

应理解，本申请实施例提到的芯片还可以称为系统级芯片、系统芯片、芯片系统或片上系统芯片等。

以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围。