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一种辅助石英晶体微天平用于第一壁材料腐蚀研究的套筒

摘要

本发明公开了一种辅助石英晶体微天平用于第一壁材料腐蚀研究的套筒,包括有异内径金属圆筒,绝缘底座和高压电源,异内径金属圆筒嵌入绝缘底座后一起安装在探头表面,并利用高压电源在异内径金属圆筒上维持正偏压。套筒可以在石英晶体前方形成喇叭口结构使得石英晶体表面圆形镀膜区域在等离子体最外闭合磁面上的投影成为规则的近圆形,并减小中性粒子入射石英晶体圆形镀膜区域的通量,同时异内径金属圆筒上的正偏压可以有效阻止杂质离子的入射。本发明的有益效果包括使石英晶体圆形镀膜区域对其在等离子体最外闭合磁面上投影区域的平均固体角的计算简化并精确,延长石英晶体微天平的使用寿命,以及排除杂质沉积的干扰。

著录项

  • 公开/公告号CN115824942A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2023-03-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院合肥物质科学研究院;

    申请/专利号CN202211710733.5

  • 申请日2022-12-29

  • 分类号G01N17/00;G21B1/13;

  • 代理机构北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人杨学明

  • 地址 230031 安徽省合肥市庐阳区三十岗乡古城路181号

  • 入库时间 2023-06-19 18:54:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-03-21

    公开

    发明专利申请公布

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