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小样本约束下的SGEMP毁伤概率评估方法及系统

摘要

本发明提供一种小样本约束下的SGEMP毁伤概率评估方法及系统,采用概率特性进行SGEMP对卫星电子学系统的毁伤评估,获得SGEMP对卫星电子学系统毁伤概率;与实际SGEMP源和空间电磁场的随机性更吻合,提高了评估的准确性。该毁伤评估方法首先通过参数估计,获得样本数据的概率密度函数;对于已知概率分布类型的样本数据,采用区间估计的方法获得概率密度函数中未知参数的置信区间;对于未知概率分布类型的样本数据,采用多参数寻优进行估计以获得其概率密度函数;然后进行毁伤概率计算。该方法针对实际样本数据的小样本约束,既可解决实际工程应用中缺少大量数据的现实问题,又可避免进行大量的试验从而降低成本。

著录项

  • 公开/公告号CN115455644A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-12-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京空间飞行器总体设计部;

    申请/专利号CN202210896930.4

  • 申请日2022-07-28

  • 分类号G06F30/20;G06F111/04;G06F111/08;G06F111/10;

  • 代理机构工业和信息化部电子专利中心;

  • 代理人田卫平

  • 地址 100094 北京市海淀区友谊路104号

  • 入库时间 2023-06-19 17:53:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-12-09

    公开

    发明专利申请公布

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