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公开/公告号CN115267492A
专利类型发明专利
公开/公告日2022-11-01
原文格式PDF
申请/专利权人 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室));
申请/专利号CN202210827505.X
发明设计人 胡湘洪;罗军;李军求;唐锐;罗道军;
申请日2022-07-14
分类号G01R31/28;
代理机构华进联合专利商标代理有限公司;
代理人李月
地址 511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
入库时间 2023-06-19 17:24:03
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-11-01
公开
发明专利申请公布
机译: 用于执行半导体集成电路测试方法的半导体集成电路的测试方法,用于半导体集成电路的测试设备,标准电路板以及用于执行测试方法的直流系统继电器
机译: 用于生成测试向量的装置和方法以及用于集成电路的测试方法
机译: 用于电路集成电路的测试向量的产生的装置和方法以及测试方法
机译:电子设备无铅安装的最新趋势:无铅焊料安装部件的质量和可靠性评估测试方法及其标准化
机译:无滴装置的评估和测量骨料和沥青结合料接触角的新测试方法
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机译:超低成本测试仪(VLCT)和LabViewRTM测试平台下电流模式集成电路的测试方法。
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机译:使用模糊逻辑装置证实了能量设备元素的非破坏性测试方法的选择
机译:专业农药问题分析无脊椎动物控制剂 - 功效测试方法第五卷存储产品和前提处理