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HEMT外延片及其制备方法、HEMT器件

摘要

本公开提供了一种HEMT外延片及其制备方法、HEMT器件,属于半导体器件技术领域。所述HEMT外延片包括:Si衬底、依次层叠在所述Si衬底上的复合过渡层、AlGaN缓冲层、AlGaN高阻层、GaN沟道层、AlGaN势垒层与GaN盖帽层,所述复合过渡层包括依次层叠在所述Si衬底上的低温BP成核层、高温BP成核层和预铺Al层,所述低温BP成核层的生长温度低于所述高温BP成核层的生长温度。

著录项

  • 公开/公告号CN115274818A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-11-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华灿光电(浙江)有限公司;

    申请/专利号CN202210708221.9

  • 申请日2022-06-21

  • 分类号H01L29/06;H01L29/08;H01L29/10;H01L29/20;H01L29/778;H01L21/02;C30B25/18;

  • 代理机构北京三高永信知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人吕耀萍

  • 地址 322000 浙江省金华市义乌市苏溪镇苏福路233号

  • 入库时间 2023-06-19 17:24:03

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-11-01

    公开

    发明专利申请公布

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