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一种上前牙牙面任意点的牙釉质厚度测量方法

摘要

本发明公开了一种上前牙牙面任意点的牙釉质厚度测量方法,包括以下步骤:获取目标上前牙CBCT影像;选取上前牙的牙面型值点,获取各型值点坐标;根据型值点坐标求取NURBS曲面控制点,通过控制点生成NURBS曲面;将NURBS曲面离散化,生成牙釉质任意点的厚度信息。自动生成上前牙牙釉质厚度,极大地提高了对牙釉质厚度测量的效率。该方法对牙齿无创,且具有较小可控的误差。该算法结合牙齿的微观结构能够帮助更深入地研究牙齿的力学及光学特性,为研究口腔上前牙内部结构,牙齿的多尺度建模及光学或力学分析提供便利。

著录项

  • 公开/公告号CN115239786A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-10-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 四川大学;

    申请/专利号CN202210856259.0

  • 申请日2022-07-14

  • 分类号G06T7/60;G06T17/30;

  • 代理机构成都行之智信知识产权代理有限公司;

  • 代理人宋辉

  • 地址 610000 四川省成都市一环路南一段24号

  • 入库时间 2023-06-19 17:19:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-10-25

    公开

    发明专利申请公布

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