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炉口光谱成像芯片及炉口最亮区域确定方法

摘要

本发明提供一种炉口光谱成像芯片及炉口最亮区域确定方法,炉口光谱成像芯片包括:图像传感器,以及设置在图像传感器的感光区域表面的光调制层;光调制层包含有光调制结构,光调制结构用于对进入至光调制结构至少一点处的入射光进行频谱调制,以在感光区域的表面得到与所述至少一点处对应的入射光携带信息;图像传感器用于将与所述至少一点处经光调制层调制后对应的入射光携带信息转换为对应的电信号,本发明实施例通过炉口光谱成像芯片可以实现对炉口入射光携带信息的非接触式采集,本发明提供的炉口光谱成像芯片能够实现对冶炼温度或炼钢终点的准确识别。

著录项

  • 公开/公告号CN115132765A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-09-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN202110328490.8

  • 申请日2021-03-26

  • 分类号H01L27/146;C21C5/46;G06F17/15;

  • 代理机构北京路浩知识产权代理有限公司;

  • 代理人苗晓静

  • 地址 100084 北京市海淀区双清路30号清华大学

  • 入库时间 2023-06-19 16:59:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-30

    公开

    发明专利申请公布

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