一种低成本高隔离度的芯片通信测试系统

摘要

本发明提供一种低成本高隔离度的芯片通信测试系统，包括：待测芯片，用于发射第一射频信号；配合测试芯片，用于发射第二射频信号；调节模块，包括：一第一链路，用于对第一射频信号进行调节得到调节后第一射频信号并发射至配合测试芯片进行解调；第二链路，用于对第二射频信号进行调节得到调节后第二射频信号并发射至待测芯片进行解调；待测芯片根据调节后第二射频信号处理得到第一衰减量，配合测试芯片根据调节后第一射频信号处理得到第二衰减量，结合配合测试芯片的第一发射功率和第一接收灵敏度处理得到测试芯片的第二发射功率和第二接收灵敏度。有益效果是本系统设置三个衰减电路和两个混频电路，大大提高衰减能力，提高测试效率。