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一种测量双极化智能天线业务波束的基准方向的方法

摘要

本发明提供了一种测量双极化智能天线业务波束的基准方向的方法,包括步骤:选取以待测双极化智能天线阵列所在的地理位置为圆心,以一定距离为半径的均匀分布在圆上的N个测试点,测得圆心及N个测试点的地理位置信息;扫频仪分别外接与待测双极化智能天线的某一极化方式相同的接收天线,在待测点测量,分别获取待测智能天线系统在不同极化方式下的波束幅度方向图;将获得的两张方向图合成获得新的方向图;新的方向图上主波束的两个半功率点之间的中线即对应业务波束的基准方向。本方法克服了现有的依靠工程师目测和经验确定基准方向的缺陷,为双极化智能天线的外场测试中准确测量移动终端的方位和业务波束的波达角提供了有利条件。

著录项

  • 公开/公告号CN101848045B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-04-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN201010200121.2

  • 申请日2010-06-13

  • 分类号

  • 代理机构北京市德权律师事务所;

  • 代理人周发军

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2022-08-23 09:13:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-08-05

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H04B 17/00 授权公告日:20130403 终止日期:20140613 申请日:20100613

    专利权的终止

  • 2013-04-03

    授权

    授权

  • 2010-11-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):H04B 17/00 申请日:20100613

    实质审查的生效

  • 2010-09-29

    公开

    公开

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