一种芯片测试用晶圆毛料调整装置

摘要

本发明提供一种芯片测试用晶圆毛料调整装置，涉及芯片测试领域。该芯片测试用晶圆毛料调整装置，包括承载壳，所述承载壳内底壁固定连接有固定块，固定块内部阵列开设有若干个放置槽，放置槽后端内部镶嵌有动力轮，动力轮内部插接有动力轴，动力轴右端贯通承载壳，动力轴位于承载壳外部部分固定连接有驱动齿轮，驱动齿轮外表面套接有齿条。该芯片测试用晶圆毛料调整装置在使用时，电机带动齿条转动，齿条带动驱动齿轮转动，驱动齿轮带动动力轴转动，动力轴带动动力轮旋转，动力轮带动晶圆毛料旋转，晶圆毛料外圆横切面旋转至接触板平面处停止运动，动力轮空转，此时动力轮无法带动晶圆毛料继续旋转，实现毛料角度调整，具有调整角度一致的优点。