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一种能够扣除杂散辐射的红外辐射测量方法及装置

摘要

一种能够扣除杂散辐射的红外辐射测量方法及装置,测量方法基于扣除杂散辐射测量原理推导和工程应用相结合,保证了测量方法的可行性;装置包括光学头部,光学头部包括反射镜组件、分光系统、光学系统和热电堆探测器,分光系统、光学系统和热电堆探测器依次沿光路设置,反射镜组件移动设置在分光系统远离光学系统的一侧,反射镜组件包括镜面朝向热电堆探测器的镀金反射镜和温度传感器,镀金反射镜在遮挡光路和离开光路两个状态间切换。本发明保证高精度的辐射测量;快速切换两种测量状态;拓展了装置的适用性;在不改变像的视场角的前提下,有效防止渐晕现象,且保证了入射辐射能量均匀性;有效实现数据的采集、存储和处理等。

著录项

  • 公开/公告号CN114593822A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-06-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院合肥物质科学研究院;

    申请/专利号CN202111255200.8

  • 发明设计人 张允祥;李新;张艳娜;韦玮;潘琰;

    申请日2021-10-27

  • 分类号G01J5/00;G01J5/02;G01J5/12;

  • 代理机构杭州杭诚专利事务所有限公司;

  • 代理人郑汝珍

  • 地址 230031 安徽省合肥市蜀山区蜀山湖路350号光学遥感中心

  • 入库时间 2023-06-19 15:35:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-07

    公开

    发明专利申请公布

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