提高功率半导体器件动态测试效率的电路

摘要

本发明涉及一种提高功率半导体器件动态测试效率的电路。其包括测试电路本体，测试电路本体包括开关K1以及开关K2，还包括设置于开关K1所在支路的第一可控型半导体开关电路以及设置于开关K2所在支路的第二可控型半导体开关电路，开关K1闭合且第一可控型半导体开关电路内的可控型半导体开关处于导通状态时，开关K1以及第一可控型半导体开关电路所在的支路处于通路状态；开关K2闭合且第二可控型半导体开关电路内的可控型半导体开关处于导通状态时，开关K2以及第二可控型半导体开关电路所在的支路处于通路状态。本发明可提高动态测试的效率，减少机械开关的动作次数，延长测试机的使用寿命，降低测试成本。