首页> 中国专利> 产生具有沟槽的半导体本体的方法、具有至少一个沟槽的半导体本体以及半导体器件

产生具有沟槽的半导体本体的方法、具有至少一个沟槽的半导体本体以及半导体器件

摘要

提出了一种产生具有沟槽的半导体本体的方法。半导体本体(10)包括基板(16)。该方法包括使用蚀刻掩模(38)将沟槽(11)蚀刻到基板(16)中的步骤。通过基板(16)的氧化至少在沟槽(11)的侧壁(14)上形成氧化物层(12)。钝化层(13)形成在氧化物层(12)和沟槽(11)的底部(15)上。从沟槽(11)的底部(15)去除钝化层(13)。最后,将金属喷镀层(18)沉积到沟槽(11)中。

著录项

  • 公开/公告号CN114556545A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-05-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ams有限公司;

    申请/专利号CN202080072590.2

  • 发明设计人 G.帕特德;T.博德纳;

    申请日2020-10-23

  • 分类号H01L21/768;H01L23/538;

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人邓亚楠

  • 地址 奥地利普雷斯特滕

  • 入库时间 2023-06-19 15:26:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-27

    公开

    国际专利申请公布

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号