检查分析仪系统的质谱仪的质量轴校准的有效性的技术

摘要

在一个方面，本公开涉及一种用于检查分析仪系统的质谱仪(MS)的质量轴校准的有效性的方法，所述方法包括：获得跨越所述质谱仪的预定m/z测量范围的质量轴检查样品；以及自动处理所述质量轴检查样品，包括：使用所述MS对所述MS的所述预定m/z测量范围内的至少两个质量轴点执行不同类型的多个全扫描模式MS测量以获得测量数据，其中所述不同类型包括至少正模式下的第一全扫描MS测量和负模式下的第二测量或者至少所述质谱仪的第一滤质器的第一全扫描测量和所述质谱仪的第二滤质器的第二全扫描模式；其中选择多个不同的全扫描MS测量，使得所述质谱仪中的最大测量时间少于5分钟；将所述至少两个质量轴点中的每个质量轴点的所述测量数据与相应的参考数据进行比较；以及基于比较步骤的结果来确定质量轴校准条件是否超出规范。