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影像分析方法与影像分析系统

摘要

本发明提供一种影像分析方法包括以下步骤:取得由电子显微镜提供的多层结构影像,并且透过显示装置显示多层结构影像,其中多层结构影像为灰阶影像;设定量测线段于多层结构影像上,其中量测线段朝第一方向延伸;沿着量测线段侦测多层结构影像在对应于量测线段上的灰阶分布;以及分析灰阶分布,以依据阈值范围来决定多层结构影像中的多个深色层厚度以及多个浅色层厚度。本发明的影像分析方法与影像分析系统可自动地量测多层结构影像的每一层的厚度。

著录项

  • 公开/公告号CN114485411A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-05-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 邑流微测股份有限公司;

    申请/专利号CN202111057652.5

  • 发明设计人 钟侑原;

    申请日2021-09-09

  • 分类号G01B11/02;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 中国台湾台北市信义区松信路83号3楼(邮递区号110)

  • 入库时间 2023-06-19 15:18:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/02 专利申请号:2021110576525 申请日:20210909

    实质审查的生效

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