首页> 中国专利> 使用自混合干涉测量法的表面品质感测

使用自混合干涉测量法的表面品质感测

摘要

本公开涉及使用自混合干涉测量法的表面品质感测。本发明描述了一种电子设备。该电子设备包括外壳、附接到外壳的一组一个或多个SMI传感器,以及处理器。该组一个或多个SMI传感器包括一组一个或多个电磁辐射发射器,该组一个或多个电磁辐射发射器具有一组一个或多个谐振腔并且被配置为发出一组一道或多道电磁辐射束。该组一个或多个SMI传感器还包括一组一个或多个检测器,该组一个或多个检测器被配置为生成该组一个或多个谐振腔内的自混合的指示。处理器被配置为使用自混合的指示来表征目标的光场散斑。处理器还被配置为使用光场散斑的表征来表征目标的表面品质。

著录项

  • 公开/公告号CN114252411A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 苹果公司;

    申请/专利号CN202110939964.2

  • 发明设计人 陈童;A·F·西罕;金明舟;

    申请日2021-08-17

  • 分类号G01N21/45(20060101);G01N21/47(20060101);G01B11/30(20060101);

  • 代理机构11038 中国贸促会专利商标事务所有限公司;

  • 代理人邹丹

  • 地址 美国加利福尼亚

  • 入库时间 2023-06-19 14:42:14

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-29

    公开

    发明专利申请公布

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号