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N极性面AlGaN基紫外光电探测器外延结构及其制备方法

摘要

本发明公开了一种N极性面AlGaN基紫外光电探测器外延结构及其制备方法,所述N极性面AlGaN基紫外光电探测器外延结构包括:在硅衬底上依次生长的非掺杂N极性面AlN缓冲层、碳掺杂半绝缘化N极性AlN缓冲层、碳掺杂N极性面组分渐变AlyGa1‑yN缓冲层和非掺杂N极性面AlxGa1‑xN层;其中,x=0.5~0.8,y=0.75~0.95。本发明提供的N极性面AlGaN基紫外光电探测器外延结构,增强了AlGaN基紫外探测器的功率和探测率,提高了紫外光电探测器的光电响应度并有效降低后续器件加工难度;本发明提供的制备方法,降低了高温MOCVD生长的N极性AlGaN外延层的位错密度和表面粗糙度。

著录项

  • 公开/公告号CN114242814A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华南理工大学;

    申请/专利号CN202111375510.3

  • 申请日2021-11-19

  • 分类号H01L31/0304(20060101);H01L31/0352(20060101);H01L31/101(20060101);H01L31/18(20060101);C23C16/30(20060101);

  • 代理机构44245 广州市华学知识产权代理有限公司;

  • 代理人李君

  • 地址 510640 广东省广州市天河区五山路381号

  • 入库时间 2023-06-19 14:37:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-25

    公开

    发明专利申请公布

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