首页> 中国专利> 一种小口径内壁微米级别缺陷检测方法、检测装置、应用

一种小口径内壁微米级别缺陷检测方法、检测装置、应用

摘要

本发明属于筒状类待测内壁表面缺陷检测技术,公开了一种小口径内壁微米级别缺陷检测方法、检测装置、应用。通过待测内壁的尺寸的大小进行视觉环境的搭建,将条纹光源放置于待测内壁底部,CCD相机从另一端获取条纹光源在内壁中的内壁成像,当内壁存在缺陷时,对应位置缺陷图像发生偏折;通过设计条纹形状、机械结构以及CCD相机图像处理方法,对发生偏折的缺陷图像基于光线追迹方法实现小口径内壁微米级缺陷在线检测。本发明可以进行高效率检测,解决现有设备节拍慢的问题,在原先基础上提升了数十倍的检测效率。检测的成本均有降低,本发明解决了企业针对小直径内壁缺陷的高精度在线检测,提高了生产效率。

著录项

  • 公开/公告号CN114113145A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学;

    申请/专利号CN202111348411.6

  • 发明设计人 袁帅鹏;张效栋;闫宁;朱琳琳;

    申请日2021-11-15

  • 分类号G01N21/954(20060101);G01N21/01(20060101);

  • 代理机构12224 天津盈佳知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人孙宝芸

  • 地址 300072 天津市南开区卫津路92号

  • 入库时间 2023-06-19 14:20:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-01

    公开

    发明专利申请公布

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号