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一种具有高性能高效率的晶圆测试探针台

摘要

本发明公开了一种具有高性能高效率的晶圆测试探针台,包括一号安装台,所述一号安装台上设置有横向纵向调节台,所述横向纵向调节台上设置有工作台,所述工作台的后侧位置设置有后部支架,所述后部支架上设置有观察镜筒,所述一号安装台上在位于工作台的两侧位置设置有侧面下部安装管,所述侧面下部安装管内设置有内部活动杆,所述内部活动杆上端位置设置有侧面上部安装柱,所述侧面下部安装管之间设置有下部安装板。本发明所述的一种具有高性能高效率的晶圆测试探针台,属于晶圆加工领域,设置的一号螺杆和二号螺杆等结构,便于将侧面安装台上下调节高度,水平调节位置,通过设置的折型托起杆等结构,能够将晶圆片托起,便于用户取出。

著录项

  • 公开/公告号CN114113966A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 广东万维半导体技术有限公司;

    申请/专利号CN202111430005.4

  • 发明设计人 杨凯翔;

    申请日2021-11-29

  • 分类号G01R31/26(20140101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 518000 广东省深圳市龙岗区布吉街道文景社区储运路46号宝安外贸保税仓综合楼208

  • 入库时间 2023-06-19 14:20:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-01

    公开

    发明专利申请公布

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