首页> 中国专利> 低温磁场环境下的波矢分辨布里渊光谱测量系统

低温磁场环境下的波矢分辨布里渊光谱测量系统

摘要

一种低温磁场环境下的波矢分辨布里渊光谱测量系统,包括:恒温装置,适用于放置待测样品且将待测样品的温度保持在低温环境下;物镜,适用于将目标激光聚焦到待测样品上,以激发待测样品产生带有待测样品光谱特性的布里渊散射光;磁场产生装置,适用于给待测样品施加磁场;以及连接台,恒温装置和磁场产生装置设置于连接台上,连接台适用于驱动恒温装置和磁场产生装置转动;其中,在连接台沿着预设方向旋转的情况下,目标激光聚焦到待测样品上的位置保持不变,磁场产生装置与恒温装置的相对位置保持不变,每隔预设角度,通过物镜的目标激光激发待测样品产生带有待测样品光谱特性的布里渊散射光,从而得到波矢分辨的布里渊散射光谱。

著录项

  • 公开/公告号CN114088667A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;

    申请/专利号CN202111582208.5

  • 发明设计人 张俊;庞思敏;谢亚茹;

    申请日2021-12-22

  • 分类号G01N21/63(20060101);G01N21/01(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人张博

  • 地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号

  • 入库时间 2023-06-19 14:17:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/63 专利申请号:2021115822085 申请日:20211222

    实质审查的生效

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号