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适用于低温强磁场环境下的显微光谱成像测试系统

摘要

本实用新型提出了一种适用于低温强磁场环境下的显微光谱成像测试系统,属于显微光谱成像领域。包括样品杆、转接腔、相机、照明光源、第一光学模块、第二光学模块、激光器和光谱仪;所述的样品杆为中空结构,样品杆一端连接三维位移台,样品杆另一端通过转接腔与第一光学模块连接;所述样品杆的内部还安装有显微物镜,显微物镜的物方朝向样品台一侧。本实用新型将自由空间光路引入到样品杆中,解决了传统光纤的热胀冷缩引起的失焦问题,进一步利用显微成像系统,解决了光纤样本杆中的盲扫问题,可以在光谱检测的同时进行实时的显微成像,对样品的光谱测量位置进行精确定位,得到光谱和样品表面位置的对应关系。

著录项

  • 公开/公告号CN213903318U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-08-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 江苏度微光学科技有限公司;

    申请/专利号CN202022759281.2

  • 发明设计人 马庆;匡翠方;罗向东;余洋;

    申请日2020-11-25

  • 分类号G01N21/64(20060101);G01N21/65(20060101);G01N21/01(20060101);

  • 代理机构33200 杭州求是专利事务所有限公司;

  • 代理人郑海峰

  • 地址 215131 江苏省苏州市相城区元和街道嘉元路1018号元联大厦

  • 入库时间 2022-08-22 23:30:20

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