雷击地电位抬升测试方法

摘要

本发明属于地电位抬升测试领域，尤其是一种雷击地电位抬升测试方法，针对现有的不能够对电子器件的地电位抬升能力进行预估，不便于对地电位抬升能力进行检测的问题，现提出如下方案，其包括以下步骤：S1、检测器件性能，根据性能预估抬升能力，并建立曲线变化图；S2、多次考核地电位抬升能力，并与预估的数据进行对比，计算差异度；S3、如差异在设定范围内，则预估数据准确；S4、如某次考核数据超出设定范围，则首先判断考核是否准确，如考核准确，则预估数据有误，需对预估进行调整，S5、再次考核，本发明可以对电子器件的地电位抬升能力进行预估，对地电位抬升能力进行检测。