首页> 中国专利> 基于深度残差收缩网络的辐射源个体识别方法及装置

基于深度残差收缩网络的辐射源个体识别方法及装置

摘要

本发明公开了一种基于深度残差收缩网络的辐射源个体识别方法及装置,属于信息安全技术领域。包括获取辐射源的ADS‑B信号的一维点数据;将所述一维点数据转换成IQ波形图,采用拼接方式将I路图像和对应的Q路图像拼接到一起,形成I/Q拼接图;在深度残差网络的基础上结合注意力机制和软阈值函数构建深度残差收缩网络;对I/Q拼接图样本数据进行数据增强,利用增强后的I/Q拼接图样本数据训练深度残差收缩网络;将待识别的辐射源的I/Q拼接图输入到训练好的深度残差收缩网络中,对辐射源个体进行识别。所述装置可实现所述方法。本发明能够对ADS‑B辐射源个体进行准确识别。

著录项

  • 公开/公告号CN114091545A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国人民解放军国防科技大学;

    申请/专利号CN202111461450.7

  • 发明设计人 张涛;唐震;乔晓强;杨小蒙;方浩;

    申请日2021-12-02

  • 分类号G06K9/00(20220101);G06K9/62(20220101);G06N3/04(20060101);G06N3/08(20060101);

  • 代理机构32346 江苏瑞途律师事务所;

  • 代理人白晓宇

  • 地址 210007 江苏省南京市秦淮区后标营18号

  • 入库时间 2023-06-19 14:15:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06K 9/00 专利申请号:2021114614507 申请日:20211202

    实质审查的生效

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号