公开/公告号CN114074228A
专利类型发明专利
公开/公告日2022-02-22
原文格式PDF
申请/专利权人 无锡华润安盛科技有限公司;
申请/专利号CN202010825752.7
申请日2020-08-17
分类号B23K26/38(20140101);H01L21/66(20060101);B07C5/34(20060101);
代理机构11415 北京博思佳知识产权代理有限公司;
代理人张玲玲
地址 214028 江苏省无锡市新区锡梅路55号
入库时间 2023-06-19 14:15:58
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-03-11
实质审查的生效 IPC(主分类):B23K26/38 专利申请号:2020108257527 申请日:20200817
实质审查的生效
机译: 剔除缺陷测试的方法,剔除缺陷测试单元和包括剔除缺陷测试单元的喷墨记录设备
机译: 晶片剔除芯片的标记方法
机译: 多芯片图形系统的早期原始装配和屏幕空间剔除