首页> 中国专利> 基于超像素和渐进式低秩表示的高光谱图像异常检测方法

基于超像素和渐进式低秩表示的高光谱图像异常检测方法

摘要

本发明提出了一种基于超像素和渐进式低秩表示的高光谱图像异常检测方法,主要针对现有低秩表示过程中构建的背景字典纯净度低且不全面,检测结果不佳的问题。包括:采用基于正交投影散度的超像素分割法对待测高光谱图像进行分割,得到同质区域集;再以所得同质区域的质心为原子构建背景字典,然后对图像进行低秩表示,并以获取的异常部分计算检测结果,最后以该检测结果为基准筛选纯净同质区域,以其质心为原子构成新背景字典,继续低秩表示操作;重复上述过程直到检测结果不变,即获得最终检测结果。本发明能够获取纯净且全面的背景字典,有利于更好地描述背景特性,从而获取更具有区分性的异常部分,进而有效提升了高光谱图像异常检测效果。

著录项

  • 公开/公告号CN114005044A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN202111273588.4

  • 发明设计人 王海;林生;张敏;成曦;周科学;

    申请日2021-10-29

  • 分类号G06V20/13(20220101);G06V10/28(20220101);G06V10/762(20220101);G06V10/764(20220101);G06K9/62(20220101);

  • 代理机构61205 陕西电子工业专利中心;

  • 代理人侯琼;王品华

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号

  • 入库时间 2023-06-19 14:05:00

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号