首页> 中国专利> 基于涡旋光束的暗场共聚焦拉曼偏振光谱测量装置与方法

基于涡旋光束的暗场共聚焦拉曼偏振光谱测量装置与方法

摘要

基于涡旋光束的暗场共聚焦拉曼偏振光谱测量装置与方法,属于光学精密测量技术领域。本发明装置包括光纤双波长光照明模块、明场共聚焦模块、暗场偏振共焦拉曼光谱分析模块;通过光纤产生环形照明光束与互补孔径遮挡探测,有效分离样品表面反射信号与亚表面散射信号,可同时获取微米级表面及亚表面划痕、磨损及亚表面裂痕、气泡等缺陷的三维分布信息;共聚焦拉曼光谱测量可对样品化学分子成分等性质进行三维检测分析;通过引入偏振信息测量,可以分析物质极性。

著录项

  • 公开/公告号CN113960010A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202111125949.0

  • 发明设计人 刘辰光;刘俭;华子杰;陈刚;

    申请日2021-09-24

  • 分类号G01N21/65(20060101);G01N21/49(20060101);G01N21/88(20060101);

  • 代理机构11465 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人符继超

  • 地址 211300 江苏省南京市高淳区经济开发区沧溪路55号

  • 入库时间 2023-06-19 13:58:51

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号