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一种同轴环形材料电磁参数测试座、测试系统测试方法

摘要

本发明涉及材料电磁参数测量技术领域,尤其涉及一种同轴环形材料电磁参数测试座、测试系统及测试方法。该测试座的待测件夹持部和两个电缆支架均设置在底座,两个电缆支架分别设置在待测件夹持部的两侧,测试电缆的一端穿过电缆支架上的过孔与同轴夹具螺纹连接,且与过孔之间紧配,能够较好的固定测试电缆,防止校准与测试连接过程中电缆随意抖动,避免待测件相平同轴夹具发生不必要移动,保证测试过程中的相位稳定,降低测试误差。两个过孔与同轴夹具同轴设置,电缆支架与底座之间滑动连接,保证同轴夹具两端连接的测试电缆的端口在同一水平线,便于测试电缆与同轴夹具连接,保证多次连接的准确性。

著录项

  • 公开/公告号CN113960510A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京环境特性研究所;

    申请/专利号CN202111218507.0

  • 发明设计人 李宁;徐向明;苟菲;杨丽;

    申请日2021-10-20

  • 分类号G01R33/12(20060101);G01R27/28(20060101);G01R1/04(20060101);

  • 代理机构11609 北京格允知识产权代理有限公司;

  • 代理人李亚东;刘瑞丽

  • 地址 100854 北京市海淀区永定路50号

  • 入库时间 2023-06-19 13:58:51

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