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基于少层二维半导体材料形成布拉格激子极化激元的方法

摘要

本发明涉及一种基于少层二维半导体材料形成布拉格激子极化激元的方法,包括如下步骤:(1)采用高真空电子束蒸镀技术在Si衬底表面交替沉积一定对数的折射率不同的介质膜材料,形成分布式布拉格反射镜,构造平板半微腔;(2)采用机械剥离或是化学气相沉积法将少层二维半导体材料制备在平板半微腔上;(3)在合适的激发光源作用下便可以形成激子极化激元。本发明大幅简化了传统的谐振腔或增益介质的多重插入式结构设计,在少层二维半导体材料表面形成激子极化激元,使得激子极化激元更容易观测和调控,有利于实用型二维半导激子极化激元器件的开发及应用。

著录项

  • 公开/公告号CN113937618A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西北工业大学;

    申请/专利号CN202111371233.9

  • 发明设计人 尚景智;胡韩伟;张学文;何思霖;

    申请日2021-11-18

  • 分类号H01S5/125(20060101);H01S5/10(20210101);

  • 代理机构61204 西北工业大学专利中心;

  • 代理人王鲜凯

  • 地址 710072 陕西省西安市友谊西路127号

  • 入库时间 2023-06-19 13:54:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-01-14

    公开

    发明专利申请公布

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