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单光子探测器及其制作方法、单光子探测器阵列

摘要

本申请提供一种单光子探测器及其制作方法、单光子探测器阵列,通过在提供的衬底一侧依次生长多层外延层,包括缓冲层、吸收层、过渡层、电荷层、倍增层、反型层、迁移层、窗口层和欧姆接触层,并通过扩散工艺在欧姆接触层和窗口层内形成弧形扩散区,对衬底上的部分外延层的边缘进行刻蚀以形成台面结构,在衬底背面形成光窗口,并在欧姆接触层上形成P型电极、在衬底背面形成N型电极。本方案中,仅需通过一次扩散处理并结合反型层,即可有效降低扩散区域边缘电场,进而有效抑制边缘击穿问题,且相比现有的需要二次扩散处理或二次生长的方式而言,有效降低了制作工艺的复杂性。

著录项

  • 公开/公告号CN113921646A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 厦门市三安集成电路有限公司;

    申请/专利号CN202111159738.9

  • 申请日2021-09-30

  • 分类号H01L31/107(20060101);H01L31/0304(20060101);H01L31/18(20060101);H01L27/144(20060101);

  • 代理机构11463 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人陈秋梦

  • 地址 361100 福建省厦门市同安区洪塘镇民安大道753-799号

  • 入库时间 2023-06-19 13:51:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-03-31

    授权

    发明专利权授予

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