基于全介质超表面结构的全斯托克斯偏振检测器

摘要

本发明公开了一种基于全介质超表面的全斯托克斯偏振检测器，包括：基底以及基底上全介质超表面纳米结构单元形成的纳米单元阵列；所述基底采用介质材料，所述全介质超表面纳米结构单元为各向异性结构，当光波入射到超表面上时，经过纳米单元阵列的偏振‑相位调制，透射光波分别聚焦到三组正交偏振基矢上，即0°/90°线偏振、45°/135°线偏振、左旋/右旋圆偏振，通过测量六个偏振态的聚焦强度，可以获得入射光的偏振态分布。本发明设计的全斯托克斯偏振检测器具有超薄的厚度(纳米量级)，有利于器件与纳米光子学系统相结合，可以实现小体积、对入射角度不敏感的入射光全斯托克斯偏振检测。