公开/公告号CN113701625A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-11-26
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院上海光学精密机械研究所;
申请/专利号CN202011233222.X
申请日2020-11-06
分类号G01B11/00(20060101);
代理机构31317 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙);
代理人张宁展
地址 201800 上海市嘉定区清河路390号
入库时间 2023-06-19 13:24:42
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-09-02
授权
发明专利权授予
机译: 使用二维光栅尺测量旋转角度变化的六自由度位移测量仪
机译: 光栅尺的安装装置及安装方法,光栅尺测量系统及光刻机
机译: 宏微复合光栅尺测量系统及使用该系统的测量方法,包括宏读取模块,微读取模块和测量基准线