快速检测LED老化寿命的快重离子辐照方法

摘要

本发明公开了快速检测LED老化寿命的快重离子辐照方法。本发明快速检测LED老化寿命的快重离子辐照方法，包括如下步骤：(1)用不同辐照剂量的快重离子辐照LED芯片使其内部形成不同程度的损伤；(2)对辐照后的LED芯片进行封装，检测不同辐照剂量的LED芯片在同一激发电流下的发光强度；(3)对发光强度与辐照剂量或发光强度与辐照损伤程度的关系进行拟合，得到拟合曲线和/或拟合方程；根据所述拟合曲线和/或拟合方程预测LED器件的老化寿命；所述辐照损伤程度为原子的平均离位次数。本发明采用快重离子辐照技术，在发光活性层只沉积能量且损伤程度可控，可在几分钟之内完成LED的老化实验，克服了传统应力老化试验耗时长、能耗高及实验过程复杂的缺点。