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一种重离子辐照系统及辐照方法

摘要

本发明涉及一种离子辐照系统及方法。所述系统包括真空腔室和横向梯度剂量控制装置,其中,所述真空腔室上设有离子束入射口;所述横向梯度剂量控制装置的一端伸入所述真空腔室,该一端用于固定待辐照样品,所述横向梯度剂量控制装置的轴线垂直所述离子束的入射方向,所述横向梯度剂量控制装置能够沿其轴向移动。本发明用重离子辐照的方法在材料上能够形成连续的梯度剂量损伤区域,在短时间内得到与中子辐照相似损伤分布的样品,为先进核能系统候选材料的筛选和服役寿命评估提供了实验平台。

著录项

  • 公开/公告号CN111599504A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院近代物理研究所;

    申请/专利号CN202010481699.3

  • 发明设计人 张崇宏;

    申请日2020-05-29

  • 分类号G21K5/10(20060101);G21K5/04(20060101);G21C17/00(20060101);

  • 代理机构11245 北京纪凯知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘小娟

  • 地址 730013 甘肃省兰州市城关区南昌路509号

  • 入库时间 2023-12-17 11:45:16

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-28

    公开

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