首页> 中国专利> 一种低暗电流高灵敏度光电探测器结构及其制造方法

一种低暗电流高灵敏度光电探测器结构及其制造方法

摘要

一种低暗电流高灵敏度光电探测器结构,包括外延片,该外延片包括InP衬底,所述InP衬底的上方由下往上依次沉积有缓冲层、下欧姆接触层、过渡层、吸收层和窗口层,所述窗口层的上方设置有上欧姆接触层和绝缘层;所述上欧姆接触层和所述绝缘层位于同一层,所述绝缘层分为两个部分且分别位于所述上欧姆接触层的两侧。本发明采用MOCVD选区外延工艺,制备出自带隔离槽和低侧面漏电结构的探测器外延片,减少复杂高精度的光刻套刻和刻蚀工艺,制程简化,良率高,成本低。

著录项

  • 公开/公告号CN113644165A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 全磊光电股份有限公司;

    申请/专利号CN202110920365.6

  • 申请日2021-08-11

  • 分类号H01L31/18(20060101);C30B25/18(20060101);C30B25/20(20060101);C30B28/14(20060101);C30B29/40(20060101);

  • 代理机构32251 苏州翔远专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘计成

  • 地址 361000 福建省厦门市火炬高新区(翔安)产业区同龙二路567号1-3层

  • 入库时间 2023-06-19 13:13:51

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号