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共集成的高压(HV)和中压(MV)场效应晶体管

摘要

本公开涉及半导体结构,更具体地,涉及共集成的高压器件和中压器件及其制造方法。该结构包括:衬底,其具有绝缘体上半导体(SOI)区域和体区域;以及第一器件,其形成在体区域上,该第一器件具有第一栅极电介质层和围绕第一电介质层的第二栅极电介质层,第一栅极电介质层和第二栅极电介质层的厚度大于SOI区域的绝缘体层的厚度。

著录项

  • 公开/公告号CN113594238A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202110318832.8

  • 发明设计人 吴楠;T·E·坎姆勒;P·巴尔斯;

    申请日2021-03-25

  • 分类号H01L29/423(20060101);H01L29/06(20060101);H01L27/088(20060101);

  • 代理机构11247 北京市中咨律师事务所;

  • 代理人林莹莹;杨晓光

  • 地址 德国德累斯顿

  • 入库时间 2023-06-19 13:05:40

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