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一种YIG/SnTe异质结单晶外延薄膜及其制备方法

摘要

本发明涉及一种YIG/SnTe异质结单晶外延薄膜及其制备方法,所述YIG/SnTe异质结单晶外延薄膜的制备方法为:提供GGG基底,并将该GGG基底置于真空系统中;利用脉冲激光沉积生长一YIG薄膜于该GGG基底表面;再利用分子束外延技术生长一SnTe薄膜于作为基底的YIG薄膜表面。利用本发明方法可制备出高质量的单晶外延铁磁/拓扑绝缘体异质结,可在300K时观察到反常霍尔效应。

著录项

  • 公开/公告号CN113594354A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院金属研究所;

    申请/专利号CN202110661631.8

  • 发明设计人 马嵩;张安琪;刘伟;张志东;

    申请日2021-06-15

  • 分类号H01L43/06(20060101);H01L43/10(20060101);H01L43/14(20060101);

  • 代理机构21001 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司;

  • 代理人张晨

  • 地址 110015 辽宁省沈阳市沈河区文化路72号

  • 入库时间 2023-06-19 13:05:40

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