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一种基于Geant4平台仿真精确获取相衬成像参数的方法

摘要

本发明公开了一种基于Geant4平台仿真精确获取相衬成像参数的方法,将材料元素对X射线的线形衰减系数嵌入Geant4的材料属性中,并将低原子序数物质对高能X射线情况下的计算相移因子公式集成到Geant4的StepingAction中,以step为最小单位,计算每个粒子经过材料时的空间坐标以及相位数据。本方法在Geant4中新增统计X射线相位数据变化,利用了X射线在不同物质中的相位变化快慢不同对物质进行探测成像,弥补了利用X射线在不同物质中的衰减快慢不同对物质进行探测的传统X射线探测器无法有效探测低密度物质的缺陷。

著录项

  • 公开/公告号CN113569404A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 扬州大学;

    申请/专利号CN202110836696.1

  • 申请日2021-07-23

  • 分类号G06F30/20(20200101);

  • 代理机构32249 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙);

  • 代理人陈建和

  • 地址 225009 江苏省扬州市大学南路88号

  • 入库时间 2023-06-19 13:02:24

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