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高低温环境下的端面位姿相对变化高精度测量方法和系统

摘要

一种高低温环境下的端面位姿相对变化高精度测量方法,包括步骤如下:步骤1,计算被测端面每次测量的位姿初始函数;步骤2,进行被测端面采集点云噪点剔除,筛选确认被测端面每次测量的最终位姿状态函数;步骤3,计算被测端面各温度工况下位姿变化结果的初始结果;步骤4,进行端面位姿变化测量数据筛选,确认各温度工况下的端面相对位姿变化最终测量结果。本发明的方法和系统能够有效的剔除测量中的端面噪点及奇异数据,进一步减小测量误差提高测量精度。

著录项

  • 公开/公告号CN113513978A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京卫星制造厂有限公司;

    申请/专利号CN202110612495.3

  • 发明设计人 唐小军;孙子杰;

    申请日2021-06-02

  • 分类号G01B11/00(20060101);

  • 代理机构11009 中国航天科技专利中心;

  • 代理人张欢

  • 地址 100190 北京市海淀区知春路63号

  • 入库时间 2023-06-19 12:54:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-04-14

    授权

    发明专利权授予

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