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一种用于涡流探伤过程的缺陷类型识别方法

摘要

本发明涉及一种用于涡流探伤过程的缺陷类型识别方法,包括以下步骤:S1:获取涡流缺陷信号;S2:对涡流缺陷信号进行去噪处理,提取涡流缺陷信号的时域特征参数;S3:通过信号频段分解和时频展开提取涡流缺陷信号的频域特征参数;S4:将时域特征参数、频域特征参数组成时频特征向量并降维处理,获取缺陷识别向量;S5:判断缺陷识别向量所处的缺陷类型范围,获取涡流缺陷信号对应的缺陷类型。与现有技术相比,本发明具有识别准确性高,适用范围广等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN113466330A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海应用技术大学;

    申请/专利号CN202110801762.1

  • 申请日2021-07-15

  • 分类号G01N27/90(20210101);

  • 代理机构31225 上海科盛知识产权代理有限公司;

  • 代理人丁云

  • 地址 201418 上海市奉贤区海泉路100号

  • 入库时间 2023-06-19 12:46:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-11-10

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N27/90 专利申请号:2021108017621 申请公布日:20211001

    发明专利申请公布后的驳回

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